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DOS与PDOS 按照侯老师的方法来做，先优化、静态，再算出dos，得到DOSCAR，得到总的态密度DOS和PDOS.
接着就要用小程序split_dos对DOSCAR进行分割。可以得到DOS0、DOS1、DOS2............其中DOS0是总的态密度，DOS1、DOS2......分别是第一、第二..........个原子的分波态密度。
DOS1是第一个原子的分波态密度值，其中第一列是能量，第二、三、四列数据分别对应于s、p、d态的分波态密度值。 Split_DOS做出来的TDOS,费米能级就在0eV处，意思就是说将费米能3.1653归零处理，其他的能量其实都是相对于3.1653eV的相对值 判断吸附稳定性 先看结合能，然后再分析电荷转移情况，再分析PDOS以判断来源。 稳定与否应该可以通过对应吸附原子的PDOS往低能移动来解释 楼主可以结合态密度、分波态密度和电荷密度以及吸附能四项来综合考察 费米能级附近态密度越宽，说明成键越稳定？？？？不确定，待核实 总的态密度为什么和分波态密度不相等？ 这与计算态密度的时候所对原子空间的划分方法有关~ 只要横坐标的能量对应上了就好了。纵坐标累加不等TDOS是完全在正常的。 总态密度的单位是电子/单胞体积
分波态密度的单位是电子/原子数 分态DOS强度和总DOS强度不相等是很正常的，关键看峰值的能量范围能否和总的DOS对应起来，且分态的DOS也是只画单原子的即可，没必要加和。qi DOS图中怎么判断非金属性，半金属性，金属性 只看整体，如果单个元素的分波态密度跨过费米能级，那整体必须是金属性或者有可能是半金属性的 DOS与Band Structure都能看出导体、半导体、半金属等，在费米面处存在能隙的，则为非金属或半导体。 能带结构的分析：
判断的标准是看费米能级和导带（也即在高对称点附近近似成开口向上的抛物线形状的能带）是否相交，若相交，则为金属，否则为半导体或者绝缘体。
态密度的分析：
若费米能级处于DOS值为零的区间中，说明该体系是半导体或绝缘体；
若有分波DOS跨过费米能级，则该体系是金属。 计算态密度时，设置哪些参数可以使态密度的曲线更平滑 高斯展宽，展宽取值在0.1~0.2，可以使图平滑一些 如果计算量允许的话，可以增加K点；同时需要考虑展宽的影响，太小的展宽容易产生很多毛刺而不平滑 增加K点 如果采用其他的ISMEAR的话DOS会不太准 k点密集程度会影响态密度的平滑程度，我是说如果展宽取的太大 态密度会不是很准的 如果用-5就没有这个问题了，因为-5默认的展宽是0 如果用其他的就要注意展宽不能去太大
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